非接触式画像解析変位測定クリープ試験装置

概 要

非接触式画像解析変位測定クリープ試験装置

本装置の測定器は、非接触式の変位測定器で、従来の光学式やレーザー光線式と異なり、被測定物の状態変化を直接高分解能CCDカメラでとらえ、専用画像処理コンピュータで高速処理を行ない変位量として演算し、測定状態をモニターテレビで観察しながら変位量を出力できる変位測定器です。
本測定器は、種々の用途に使用できますが、特に1000℃を超える高温における耐熱材料、例えば、ファインセラミックスなどの変位測定装置として開発しました。

特 長

1.従来の光学式やレーザー光線式と比較して高精度に測定できます。

2.一つの画像処理装置で、3種類(引張・曲げ・圧縮)の変位量を測定することができます。

仕 様

●測定方法: 非接触・画像解析式
●測定位置: 試料標点間又は目標位置
●測定範囲: 0~6mm
●標 点 間: 10~30mm
●分 解 能: 1μm
●精  度: ±5μm
●サンプリング速度: 10回/sec
●表示方法: モニターによる試料監視と計測値デジタル表示
●使用温度: 900℃~2000℃(900℃以下はバックライトが必要)
●出  力: 通信インターフェース: RS232C
※試験片形状、雰囲気温度により仕様が異なりますので お問い合わせ下さい。

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